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上海茂鑫實業(yè)
Shanghai Maoxin industry專注光學儀器
德國徠卡LEICA顯微鏡全新的徠卡清潔度解決方案：快速識別污染源
這樣有什么意義呢？
您可在數秒鐘內掌握相關信息，找出影響產品性能和壽命的顆粒物的來源。您可更快地消除這些顆粒物，以符合日趨嚴格的 VDA 19 和 ISO 標準。在定位顆粒物來源上節(jié)省時間也能促成更具經濟效益的清潔度分析。
更快更輕松地執(zhí)行清潔度分析。請在網站上進一步了解我們全新的清潔度專家及 LIBS 二合一解決方案?；蛘咭部陕撓诞數氐膹瓶@微系統有限公司銷售代表了解詳情。
產品詳情
清潔度檢測儀 LIBS，LIBS無需樣品制備，減少的材料分析時間。
清潔度檢測設備<span style="box-sizing: border-box;" font-size:18px;"="">，金相顯微鏡，汽車部件清潔度檢測設備，元素分析儀徠卡清潔度檢測儀與顆粒元素分析一體機。
DM6M LIBS激光誘導光譜復合式顯微鏡
簡介：
(1) 1 秒即可獲得化學元素圖譜，可節(jié)省 90% 的時間：目視和化學材料檢驗二合一
將目視檢驗和定性化學檢驗組合在一個工作步驟中，與使用傳統 SEM/EDS 檢驗相比，測定微觀結構成分的時間可節(jié)省 90%。
(2)微觀結構成分分析解決方案： DM6 M LIBS集成激光光譜功能可在一秒鐘內針對您在顯微鏡中看到的材料結構提供準確的化學元素圖譜。
(3)無需樣品制備
只需一次單擊，即可準確檢查通過目鏡或攝像頭觀察的物質，從而快速簡單的識別和解釋。操作員不需要額外的專業(yè)知識。
實現快速材料分析的二合一系統
DM6 M LIBS 的集成激光光譜功能可在一秒鐘內提供在顯微鏡圖像中所觀察微觀結構的化學成分。
識別感興趣的微觀結構成分，隨后只需單擊一下，即可觸發(fā) LIBS 分析。
優(yōu)勢概覽
與典型的電鏡方法*相比，節(jié)省 90% 的時間，而且
以可靠的目視和化學檢驗材料信息為基礎，快速做出自信的決策。
*可根據要求提供證明
無需 SEM 樣品制備
為什么使用 DM6 M LIBS 解決方案進行材料分析能節(jié)省 90% 的時間？因為這種解決方案：
無需樣品制備和轉移；
無需系統調節(jié)；且
無需重新定位感興趣區(qū)域 (ROI)。
減少工作流程
將工作流程精簡至只有一個步驟，以結果為重點。
關于使用 DM6 M LIBS 進行成分分析的更多信息，請參考本應用說明。
迅速決定該做什么
將多種工具組合起來分析樣品的顯微結構成分，將在一秒鐘內獲得元素信息，助您做出正確的決策。
在 90% 以上的情況下，用戶都能獲得足夠的數據，對下一步行動做出自信的決策 (例如，是否需要使用 SEM 進行更詳細的分析來確認污染源)。*
*基于用戶反饋
組件清潔度分析
DM6 M LIBS 二合一系統與 Cleanliness Expert 分析軟件相結合，讓您僅使用一臺儀器和一個工作流程即可對過濾器上的樣品進行目視和化學檢驗。
這樣可以更輕松地找到污染源。
做出自信的決策
通過快速獲取顆粒成分和結構的數據，您將得到在分析過程中更加迅速地做出自信決策的優(yōu)勢。
微觀結構成分的評估
DM6 M LIBS 二合一解決方案可助您執(zhí)行物相的結構和元素/化學分析，例如礦石、合金、陶瓷等。
無需進行樣品制備，也無需在 2 個或更多設備之間進行轉移。整個分析工作流程全部在一臺儀器上完成。
zui大程度減少占用人力資源的樣品制備
zui大程度減少占用人力資源的樣品制備和成本高昂的 SEM/EDS 分析，從而節(jié)省時間和資金。
材料的深度剖面圖和層次分析
LIBS 的消融原理可被運用于材料的微型打孔。
微型打孔可應用于諸如：
深度剖面
層次分析
表面清潔。
在測定一種材料的成分是否隨著深入該材料其中的深度而改變時，深度剖面非常有用。
層次分析可用于查找一種材料中每一層的成分。比如多層鍍膜或噴漆的金屬，都屬于層狀材料。
利用表面清潔可以去除氧化物和污染。
LIBS：您的化學分析研究利器
DM6 M LIBS 解決方案運用激光誘導擊穿光譜 (LIBS) 使定性化學分析成為可能。
單擊即可觸發(fā)分析，激光將穿透樣品上的瞄準點。一個等離子體將會產生，然后分解。產生的特征光譜顯示材料中的元素的分布圖譜。
軟件將圖譜與已知的元素和化合物數據集進行對比，從而確定微觀結構的成分。數據集可以隨著用戶獲得的具體材料結果得到擴充。
