徠卡顯微鏡是指一種具有正像立體感的目視儀器，從不同角度觀察物體，使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。對觀察體無需加工制作，直接放入鏡頭下配合照明即可觀察，像是直立的，便于操作和解剖。視場直徑大，但觀察物要求放大倍率在200倍以下。
 

　　徠卡顯微鏡冷光源能提供無熱量的光線照明。根據(jù)不同的照明要求，客戶可以選擇雙頭光纖或環(huán)型光纖，其接口均適合我們的徠卡顯微鏡，通過易于開啟的門很容易地更換燈泡或插入濾色片，此產(chǎn)品還具有特殊的過熱保護功能，過熱能自動停止工作，冷卻后能自動恢復工作。此產(chǎn)品廣泛應用在工業(yè)半導體和集成電路板的檢測，以及學校、農林、醫(yī)療衛(wèi)生、科研部門作觀察分析。
 

　　該冷光源采用經(jīng)嚴格質量認證的優(yōu)質電器零部件，組裝前通過逐件篩選檢測，出廠前每臺產(chǎn)品均進行絕緣性能和耐高溫性能測試并長時間通電老化。冷光源儀器還添加了過流、過熱保護和開門斷電等功能。充分保證了整機的安全性和可靠性。
 

　　徠卡顯微鏡幾種常用的觀察方法：
 

　　1、偏振光法
 

　　這是使用由兩個一組的濾色鏡(檢偏振器和起偏振器)形成偏光的顯微觀察技術。這些偏光軸始終保持相互垂直。一些試樣在兩個濾色鏡之間呈鮮明的對比?；蚋鶕?jù)雙折射性能和定向(即、鋅結構的拋光試樣)呈現(xiàn)顏色。在檢偏振器插在目鏡前的觀察光路時，起偏振器位于垂直照明前面的光路。
 

　　適合觀察金相結構(即、球墨鑄鐵的石墨增長形態(tài))，礦物和液晶(LCD)以及半導體材料。
 

　　2、熒光法
 

　　本技術用于發(fā)出熒光的試樣。
 

　　適合利用熒光法檢測晶片的污染，感光性樹脂的殘留物，以及檢測裂縫。
 

　　3、明視野法
 

　　觀察試樣直接反射光的方法。照明燈的光通過物鏡垂直導向而入射于試樣，來自試樣的直接反射光通過物鏡即被觀察到。
 

　　4、暗視野法
 

　　觀察試樣干涉及衍射光的方法。照明光線通過物鏡外圍斜射于試樣，來自試樣的干涉及衍射光即被觀察到。
 

　　適用檢測試樣上微細的擦痕或裂痕、檢測晶片等試樣鏡狀表面。